SEM及TEM顯微鏡照片或圖像一直是研究開發及品質管理中不可或缺的要素。 而藉由images處理將粒徑或形狀相關系數資料化的必要性更是逐年上升。 圖像解析式粒度分布檢測系統「Macview」則是針對「粉粒體的解析及管理」所特別設計， 兼具實用性以及操作簡易的粉粒體專用解析工具。
□藉由辨識相片或images檔中的粒子形狀，可得到各種分析資料或粒度分布情況。

●images解析是藉由粒子images照片或檔案取得顆粒的形狀相關資料，並藉比例尺加以換算，所以完全沒有測定範圍的上限及下限。
●images檔案的格式支援BMP及JPEG。此外，軟體也支援直接掃描器讀入照片的方式。
 
□為了達成正確並迅速地辨認粒子形狀，提供了多種粒子辨視工具。

 

 

 ●具有粒子自動辨視功能。辨視敏感度、辨視精確度、掃描間隔等辨視條件設定完成後，可將照片全體設為辨視範圍進行自動辨視。
●提供了多種辨視及採樣的工具包括了簡單易用的辨視工具包括在粒子的中心附近單點即可自動辨視邊緣的「EasyTool」、可結合複數選取範圍的「JointTool」，對針狀結晶等長形物，以 點對點方式連結的「Point Tool」以及可與選購的筆觸式液晶顯示器結合的「PenTool」。
 
□在辨視完顆粒資料的同時，粒度分布狀況也計算完成。並可使用粒徑百分比、ON/PASS、體積、個數、長度轉換、資料合成、形狀系數分析等豐富的 分析工具
 
 
 
粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析粒徑分析
顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體顯微鏡粒徑及粒度分布分析軟體